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无损检测仪器

: 超声波探伤仪 便携式硬度计 台式硬度计 金相设备 涂层测厚仪 超声波测厚仪 粗糙度仪 转速仪 频闪仪 激光测距仪 振动测量仪 金属检测仪 涂层检测设备 流量计 内窥镜 压力计

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: 红外热像仪 红外测温仪 温度计 温湿度计 露点仪 温度记录仪 温湿度记录仪 智能记录仪 风速计 声级计/噪音计 照度计 尘埃粒子计数器 粉尘计

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食品安全检测仪

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电子工具

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仪器配件

: 热电偶 热电阻 记录纸/记录笔 PH电极 电导电极 溶氧电极 示波器探头 色带/记录墨水

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技术文章

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产品图片	产品名称/型号	品牌所有品牌德国德图TESTO 美国FLUKE 美国FLIR	主要技术指标	价格
	工业-商业型热成像仪 Ti125	美国FLUKE	温度测量范围 -20 °C至250 °C（-4 °F至482 °F）	洽询
	热像仪 Ti95	美国FLUKE	温度测量范围 -20 °C至+250 °C(-4 °F to +482 °F)	洽询
	红外热像仪 Fluke Ti32	美国FLUKE	温度测量范围（-10 °C以下未经校准）-20℃～+600℃	洽询
	红外热像仪 Ti29	美国FLUKE	温度测量范围 -20 °C ～ +600 °C	洽询
	红外热像仪 Ti9	美国FLUKE	温度量程（-10 °C以下未经校准）： -20 °C~+250 °C（-4 °F～+ 482 °F）	洽询
	热成像仪 Ti55FT	美国FLUKE	校准温度范围：Ti55: -20 ˚C至600 ˚C，3量程（-4 oF至1112 oF）	洽询
	红外热像仪 TiR3FT	美国FLUKE	校准温度范围：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF）	洽询
	红外热像仪 TiR4FT	美国FLUKE	校准温度范围：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF）	洽询
	红外热像仪 FLIR i7	美国FLIR	视场角: 29°(H) x 29°(V)	洽询
	红外热像仪 FLIR E40	美国FLIR	热灵敏度：<0.07°C	洽询
	热成像相机 T600	美国FLIR	Accuracy +/-2°C (+/-3.6°F) or +/-2% of reading, whichever is greater, at 25°C (77°F) nominal	洽询
	红外热像仪 P640	美国FLIR	测温范围 -40°C ~ +500°C（最高可选测量温度可达+2000°C）	洽询
	3” FLIR 红外窗口 IRW-3C	美国FLIR	光学元件直径：75mm	洽询
	制冷式热成像仪 HRC	美国FLIR	工作温度为-32°C～+55° C	洽询
	红外热像仪 FLIR B660	美国FLIR	精度 ±1 °C或读数的±1% （限制范围）± 2 °C或度数的± 2%	洽询
	远程监控用热像仪 ThermoVision2000	美国FLIR	工作温度范围为-32°C至+55°C	洽询
	红外热像仪 PT-348	美国FLIR	9 mm镜头– FOV： 48° (H) x 39° (V)	洽询
	红外热像仪 PT-645	美国FLIR	13 mm镜头– FOV： 45° (H) × 37° (V)	洽询
	红外热像仪 PT-625	美国FLIR	25 mm镜头– FOV： 25° (H) × 20° (V)	洽询
	红外热像仪 PT-610	美国FLIR	65 mm镜头– FOV： 10° (H) × 8° (V)	洽询

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