多功能超声波测厚仪CMX2-DL/CMX3-DL

美国DAKOTA公司CMX2-DL/CMX3-DL多功能超声波测厚仪，带A/B扫描功能，可测量材料的厚度，穿透涂层测量材料厚度，北京超声波测厚仪，也可以测量涂层的厚度。用户可根据需求选择不同的功能配置，以获得更好的性价比。CMX2-DL为灰度显示屏，CMX3-DL彩屏显示。

仪器特点

• 100MHz FPGA时序电路设计
• 可选彩色和灰度显示屏
• A/B扫描
• 手动调节增益和自动增益控制(AGC)，范围：110dB
• 自动时间相关增益(TDG)
• 多种测量模式
• 脉冲-回波(P-E)模式：测量材料厚度
• 脉冲-回波涂层(PECT)模式：同时测量材料和涂层厚度
• 脉冲-回波温度补偿(PETP)模式：测量材料厚度
• 回波-回波(E-E)模式：穿过涂层测量材料厚度
• 回波-回波验证(E-EV)模式：穿过涂层测量材料厚度
• 测量涂层(CT)模式：只测量涂层厚度
• 可接双晶探头和单晶探头(包括延迟块探头、接触式探头、笔形探头)
• USB Type-C数据接口
• 内置4GB SD存储卡

技术参数

测量

• 脉冲-回波(P-E)模式测量范围：0.63mm～30.48m(钢)
• 脉冲-回波涂层(PECT)模式测量范围：0.63mm～30.48m(钢)，0.0254~2.54mm(涂层)
• 脉冲-回波温度补偿(PETP)模式测量范围：0.63mm～30.48m(钢)
• 回波-回波(E-E)模式测量范围：2.54～152.4mm(钢，穿过涂层测量，随涂层厚度的不同，测量范围也会变化)
• 回波-回波验证(E-EV)模式测量范围：2.54～102mm(钢，超声波测厚仪用途，穿过涂层测量，随涂层厚度的不同，测量范围也会变化)
• 测量涂层(CT)模式测量范围：0.0127~2.54mm(涂层)
• 分辨率：0.01mm
• 声速范围：309.88～18542m/s
• 单位：公制或英制
• 校准：一点和两点校准方式

显示

• CMX2-DL显示屏：1/8英寸VGA灰色显示，超声波测厚仪品牌，240x160象素。可视区62x45.7mm，烟台超声波测厚仪型号，EL背光
• CMX3-DL显示屏：1/4英寸AMOLED彩色显示屏，320x240象素
• A-扫描方式：检波+/-(缺陷视场)，测厚仪表，RF(全波视场)。刷新频率25Hz/60Hz(彩色显示屏)。纵向和横向视图(彩色显示屏)
• B-扫描方式：基于时间的横截面视图。显示速度为每秒10到200个读数
• 大数字方式：标准厚度显示，超声波楼板测厚仪，数字高度17.78mm(CMX2-DL)/14.35mm(CMX3-DL)
• 厚度条形扫描：速度33Hz，在B-扫描和大数字显示中可见
• 稳定度指示：表示测量值的稳定性
• 功能状态指示：显示当前激活的功能

超声波参数

• 测量模式：P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
• 脉冲：可调方波脉冲发生器
• 接收：根据选择模式在110dB范围内采用手动或AGC增益控制，阻抗50~1500Ω可调
• 计时：单次8位100MHz超低功耗数字化仪的精确TCXO计时
• 脉冲重复频率：250Hz

探头

• 频率范围：1~20MHz
• 双晶探头和单晶探头(延迟块、接触式、笔式)
• LEMO接口，1.2米探头线

存储

• 容量：内置4GB SD卡
• 数据结构：网格(字母数字)和顺序(自动识别)
• 截屏功能：位图图形捕获，用于快速记录
• 数据输出：通过USB Type-C连接的计算机

功能

• 设置：64个用户定义设置，用户也可编辑出厂设置
• 探头类型可选：内置双路误差校正，成都超声波测厚仪，提高线性度
• 报警模式：上下限视听报警
• 快速扫描模式：每秒250个读数，当探头离开时显示最小值

其他

• 键盘：12个触摸键
• 电源：标配为三节5号碱性电池，可选镍镉电池或锂电池。电量状态指示。无操作五分钟后自动关机。USB Type-C供电
• 外壳：挤压铝机壳，底盖用镀镍铝板加密封垫封装
• 工作温度：-10～60℃
• 尺寸重量：63.5x165x31.5mm，含电池385g
• 包装：ABS工程塑料箱
• 出厂证书：工厂校准可追溯到NIST和MILSTD-45662A标准

双晶探头

注：测试高温表面时需用高温耦合剂。

单晶探头