MarSurf CM expert
产品信息
高性能实验室和 QA 系统
MarSurf CM expert 有坚固的结构且对环境波动不敏感，，所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。额外的手动 Z 定位、大 x 和 y 行程范围和能够实现自动化，，使其有优异的易用性。
典型测量任务
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粗糙度测量符合 ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
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表面特征轮廓测量（包括体积、磨损、摩擦学）
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轮廓和形状 (2D, 3D)
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孔，，颗粒分析
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缺陷检测
非常高数据质量
我们非常重要的标准之一，，即优异的精度、准确性、可重复性、可再现性和文档记录，，可保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供的非常高服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值等。
技术参数
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测量头
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explorer
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expert
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select
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mobile
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图像采集模块
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x∙y 单一测量最大测量点数量
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1200 × 1200 = 1.44 Mio.
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1200 × 1200 = 1.44 Mio.
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1200 × 1200 = 1.44 Mio.
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1200 × 1200 = 1.44 Mio.
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最大分辨率下最大图像率 (Hz)¹
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25/(100)
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25/(100)
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100/(25)
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25/100
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HDR 功能（16 位）
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标准
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标准
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标准
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标准
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彩色图像采集
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可选
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可选
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可选
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可选
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最大测量点数量² (Mio.)
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1213
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1213
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1213
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1213
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垂直测量模块
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电动定位单元
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线性编码器
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标准
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标准
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可选
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可选
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垂直测量范围 (mm)
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70
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70
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100
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35
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精细定位模块（压电模块）
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垂直测量范围 (µm)
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350
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350
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350
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350
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x、y、z 碰撞检测
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标准
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标准
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可选
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–
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物镜支架
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4 孔物镜转盘
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标准
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标准
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可选
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标准
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无物镜转盘
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–
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可选
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标准
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可选
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1) 应要求提供 2) 拼接测量可采集的测量点最大总数。
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配置
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explorer
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expert
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select
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mobile
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L 形支架
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L
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L
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龙门式
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便携式
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质量 (kg)
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25
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48
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300
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8.3
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定位体积
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x ∙ y ∙ z (mm)
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50 × 50 × 70
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100 × 100 × 70¹
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200 × 200 × 100⁵
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50 × 50 × 35
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300 × 300 × 100
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x、y 线性编码器
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标准
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标准
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可选
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标准
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系统控制器
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集成
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集成
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轮式控制柜
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集成
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被动减振
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集成
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集成
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标准
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可选
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主动减振
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可选
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可选
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可选
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可选
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1) 可利用集成的手动 z 轴扩展到 150 mm
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