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产品图片	产品名称/型号	品牌所有品牌德国德图TESTO 美国FLUKE 美国FLIR	主要技术指标	价格
	热成像仪 Ti55FT	美国FLUKE	校准温度范围：Ti55: -20 ˚C至600 ˚C，3量程（-4 oF至1112 oF）	洽询
	红外热像仪 TiR3FT	美国FLUKE	校准温度范围：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF）	洽询
	红外热像仪 TiR4FT	美国FLUKE	校准温度范围：-20 ˚C至100 ˚C（-4 oF至212 oF）	洽询

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