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    台式粗糙度仪
    型 号:S2
    品 牌:德国马尔
    技术指标:范围/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
    盐城台式粗糙度仪-S2-德国马尔

     Mahr 的台式表面测量仪适合于生产现场环境, 不但性能高而且操作简易。 可处理在生产现场不断增加的测量任务, 进行评定

    和文檔处理都表现极强的灵活性。  按照 ISO, JIS 和 ASME 标准, 可进行对标准粗糙度, 波度及轮廓参数的评定。无滑块传感器结合容
    易更换的测尖, 可快速实现不同的测量任务。


    Perthometer S2


    Perthometer S2 有如下特征:
    •  依照现行标准可实现粗糙度和波度测量
       (DIN EN ISO 3274, 例如: 带通滤波器)
    •  重量轻 (不包括内置充电电池)
    •  高分辨率的图形显示, 可清晰显示测量结果和轮廓
    • 基于自动测量原理和多测量元素, 使得操作更简单
    • 通过内置热敏打印机, 快速打印测量记录
    • PCMCIA 存储卡可存储测量程序、测量结果和轮廓
    • S2Prog 扩展程序, 可简单地建立测量程序

    •  用途广泛和简易应用的软件功能, 例如:
    -  自动设置标准滤波器和扫瞄长度功能
    -  校准和维护周期监察功能
    -  弧线滤除功能
    -  动态和静态校准程序
    -  多达 41 种评定参数, 按照 DIN EN ISO, JIS, ASME,
    MOTIF, R, W, P 和 D 轮廓及特性曲线, 并可设定
    MRC/ADC 不同比例缩放
    -  滤波器和扫瞄长度可选
    -  公差监控, 以声音和图标提示
    -  密码保护功能, 防止错误的设置和修改
    -  内置统计功能
    -  独立功能按键
    -  简易呼出和打印测量记录及各种功能
    •  通过 PCMCIA 记忆于进行软件升级
    •  SPC 接口可实现 S2 与生产程序连接
    •  RS 232 接口可实现数据传输和远程控制


    Perthometer S2 配置 PZK 用于移动测量


    技术特征

    Perthometer S2.  配置 PZK 驱动器的移动式表面测量站
     
    Perthometer S2 的特点见第5页
     
    用于移动测量的重点: 
    •  重量 < 3 kg (6.6 lbs)
    •  充电电池可进行超过 1,000 个测量
    •  存储卡可存储测量结果, 轮廓和测量程序


    Perthometer S2 配置 PZK 用于台式测量

    技术特征

    Perthometer S2.  配置 PZK 驱动器的台式表面测量站
     
    Perthometer S2 的特点见第5页
    Perthometer S2 还包括以下特点:
    •  条形图显示传感器位置信号
    •  数字按钮输入
    •  可记录测量日期和时间
    •  轮廓水平和垂直方向缩放比例可调

    •  可快速显示测量结果, 包括参数和轮廓演示


    Perthometer S2 配置 GD 25 用于移动测量


    技术特征 

    Perthometer S2. 配置GD 25 驱动器的移动式表面测量站
     
    Perthometer S2 的特点见第5页
     
    • S2 通过控制GD 25 驱动器垂直轴方向, 实现传感器自动定

    • 电动高度调节范围 4 mm (.158 in)
    • 建立和开始测量, 传感器可电动调整到零位(专利)


    Perthometer S2 配置 GD 25 用于台式测量


     技术特征

    Perthometer S2. 配置GD 25 驱动器的台式表面测量站
    Perthometer S2 的特点见第5页
    • S2 通过控制GD 25 驱动器垂直轴方向, 实现传感器自动定

    • 电动高度调节范围 4 mm (.158 in)
    • 建立和开始测量, 传感器可电动调整到零位(专利) 


     Perthometer S2 配置 PGK 120 用于台式测量

     技术特征 

    Perthometer S2. 配置PGK 120 驱动器的台式表面测量站
     
    Perthometer S2 的特点见第5页
     
    • S2 通过控制PGK 120 驱动器垂直轴方向, 实现传感器自动
    定位
    • 手动高度调节范围50 mm (1.969 in)
    • 建立和开始测量, 传感器可电动调整到零位(专利)

    Perthometer S2 配置 PGK 120 用于台式测量

    技术特征 

    Perthometer S2. 配置PGK 120 驱动器的台式表面测量站
     
    Perthometer S2 的特点见第5页
     
    • PGK 120 驱动器可连接在测量工作台上进行使用, 通过控制面
    板可电动调节高度范围 25 mm 至 410 mm (.984 in 至 16.14
    in) (可选择高达 660 mm (26 in)), 夹具装置可令驱动器在+30°
    to –45°的范围内旋转测量

    用于 MarSurf S2 的 MarSurf XR 20 评定软件  

     技术特征

    • 依照 ISO / JIS 或 MOTIF标准, 可测量多达 65 种参数,  包括
    R, P 和 W 轮廓
    • 公差监控和数据统计功能
    • 通过 Teach-In 模式, 快速建立 Quick & Easy 测量程序
    • 广泛的记录功能
    • 模拟操作可帮助操作者更快地悉识系统操作
    • 按客户的实际应用情况, 选择不同的系统兀配置
    • 可设置不同水平的用户权限
    • 通过计算机连接打印机, 可打印 A 4 表格
    • 可在计算机上获得所测的轮廓

    Perthometer S2. 技术数据
     
    测量原理   探针接触测量法
    测量范围
    范围/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
    (± 1,000 μin/.032 μin)
    ± 250 μm/8 nm
    (± 10,000 μin,/.315 μin)
    ± 2,500 μm/80 nm
    (± 100,000 μin/3.15 μin)
    65,536 步长/垂直范围
    11,200 测量点/标准扫瞄长度
    标准  DIN EN ISO/JIS/ASME 46.B
    轮廓类型  R, D, P, W (轮廓可例转) 
    垂直方向缩放比例 0.1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自动
     (3.937 μin/div. 至 .197 in/div.) 
    水平方向缩放比例 1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自动
    用于评定长度轮廓   (39.370 μin/div. 至 .197 in/div.) 
    图形 lm 0.40/1.25/4.00/12.50/40.00 mm
    (.015/.049/.157/.492/1.575 in)
    扫瞄长度 Lt 0.56/1.75/5.6/17.5/56.00 mm
    (.022/.070/.224/.700/2.240 in)
    扫瞄长度 1/2/4/8/12/16  mm
    (MOTIF)  (.040/.080/.160/.320/.480/.640 in)
    特殊扫瞄长度 0.56 至 120.00 mm, 可调
    (.022 in 至 4.724 in)
    取样长度个数 1 至 5, 可选
    滤波器 (根据 ISO/JIS)  相位滤波器 (高斯滤波器), 按照
    DIN EN ISO 11562 标准
    特殊滤波器  按照 DIN EN ISO 13565-1, 1997;
    lc/ls 按照 ISO 3274, ARC 功能
    截止波长 lc 0.08/0.25/0.8/2.5/8 mm
    (.003/.010/.032/.100/.320 in)
    短截止波长 lc/可选   有
    参数  Ra, Rq; Rz, Rt, Rp, Rv, RSm, Rdq, 
    (带有公差极限)  Rsk, Rku, Rdc, Rmr, Pmr, Pt, Wt, Pdc
    (DIN EN ISO 4287), Wa, HSC, Wg, WSm,
    Rz1max, Rmax (DIN 4288),
    Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Pdc, A1, A2
    (DIN EN ISO 13565)
    Rpmax, Rvmax, Rpc (prEN 10049), R, Ar,
    W, Aw, Rx, Wx, Wte, Nr, Ncrx, Nw, CP
    (ISO 12085), R3z (DBN 31007), RzJ, S
    (JIS B 601)
    参数表 Rmr; Pmr; Rdc; Pdc; Rk; Rz; Rp;
    Nf; CR/CF/CL (轮廓种类可选, 基线
    和交叉线可调)
    特征曲线  轮廓图, 材质比率(Abbott 曲线), 震
    幅密度; (轮廓种类可选)
    校准功能  动态和静态
    公差监控  有, 最大/最小
    自动功能  有, 选择标准滤波器和扫瞄长度
    统计  每个测量程序10 个参数
    X, S, R; Max, Min, 最多 200 个测量
    超差结果统计
    无效测量统计
     
    13 种语言   英语, 德语, 法语, 意大利语, 葡萄
    牙语, 西班牙语, 瑞典语, 丹麦语,
    捷克语, 波兰语, 中文, 韩语, 日本
    软件 S2Prog Windows 程序;
    MarSurf  XR 20 (可选)
    密码保护  有
    日期/时间   有
    单位 mm/inch   可选
    存储 PCMCIA 记忆卡用来存储轮廓、测
    量结果、测量程序/ 内置存储测量结
    果和统计
    显示  带背景光的 LCD 图像显示, 黑白480 x
    320 像素, 轮廓演示
    键盘  薄膜键盘
    打印机  热敏图表打印机,
    384 点/行;
    8 点/mm  (200 点/in) 
    打印速度  5 mm/s (.2 in/s)
    打印  自动/手动, 记录日期和/或时间
    尺寸 (高x阔x深)   约 150 x 320 x 250 mm
    (5.906 x 12.600 x 9.843 in)
    装置防护等级 IP 40;
    键盘防护等级 IP 54;
    温度范围
    存储  –15 to +55 °C (41°F to 104°F) 
    操作  +5 to +40 °C (5°F to 131°F) 
    相对湿度 30 % to 85 % (非压缩) 
    重量 < 3 kg (6.6 lbs)
    电源  拔插电源9 V; 镍镁电池
    充电情况显示  有显示
    电源管理  有
    连接  驱动器, RS 232 C 和 SPC 接口, 拔插
    电源, PCMCIA 卡槽, 保险丝
    电感传感器  运送频率 20 kHz
    传感器种类/  R-系列 (滑块):
    测量范围
    (设定 2 μm   ±50/250 μm (± 2000 μin/10,000 μin)
    (.00039 in)/90°) MFW (skidless): ±250  μm (10,000 μin)
    FRW (skidless)  (10 μm (400 μin), 90°):
    ± 750 μm (30,000 μin)
    Focodyn, LS1/LS10 (选配):
    ± 250 μm (10,000 μin)
    测量力   R-系列: 约 0.7 mN
    MFW: 0.7 mN / FRW: 6 mN
    Focodyn/LS 1/LS 10: 激光
    驱动器 PZK, GD 25, PGK 120, PRK 通过 PAV 62
    测量速度  0.1 和 0.5 mm/s (.0394 和 0.197 in/s)

    纸张粗糙度仪,
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